照明检测中心检测项目
序号 | 产品/ 产品类别 | 项目/参数 | 领域代码 | 检测标准(方法)名称及编号(含年号) | |
序号 | 名称 | ||||
1 | 发光二极管 | 1 | 正向电压Vf | 0418.03/1610.02 | 1、SJ11394-2009《半导体发光二极管测试方法》; 2、CIE 127-2007 《Measurement of LEDs》; 3、CIE 177-2007 《Color rendering of white LED light Source》 4、GB/T 26178-2010《光通量的测量方法》。 |
2 | 反向电流Ir | ||||
3 | 光通量和光通量效率 | ||||
4 | 辐射通量和辐射效率 | ||||
5 | 峰值发射波长、光谱带宽、光谱功率分布 | ||||
6 | 色品坐标 | ||||
7 | 主波长和纯度 | ||||
8 | 色温或相关色温 | ||||
9 | 显色指数 | ||||
10 | K系数 | ||||
11 | 热阻 | ||||
12 | 结温 | ||||
13 | 外观 | ||||
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| 发光二极管芯片 | 1 | 正向电压Vf | 0418.03 | SJ11399-2009《半导体发光二极管芯片测试方法》 |
2 | 反向电流Ir | 0418.03 | SJ11399-2009《半导体发光二极管芯片测试方法》 | ||
3 | 光通量和光通量效率 | 0418.03 | SJ11399-2009《半导体发光二极管芯片测试方法》 | ||
4 | 辐射通量和辐射效率 | 0418.03 | SJ11399-2009《半导体发光二极管芯片测试方法》 | ||
5 | 峰值发射波长、光谱带宽、光谱功率分布 | 0418.03 | SJ11399-2009《半导体发光二极管芯片测试方法》 | ||
6 | 色品坐标 | 0418.03 | SJ11399-2009《半导体发光二极管芯片测试方法》 | ||
7 | 主波长和纯度 | 0418.03 | SJ11399-2009《半导体发光二极管芯片测试方法》。 | ||
8 | 外观 | 0418.03 | GB 11378-2005 《金属覆盖层厚度轮廓尺寸测量方法》; | ||
3 |
普通照明用LED模块 | 1 | 正向电压Vf | 0418.03 | GBT 24824-2009 《普通照明用LED模块测试方法》 |
2 | 光通量 | 0418.03 | GBT 24824-2009 《普通照明用LED模块测试方法 | ||
3 | 色品坐标 | 0418.03 | GBT 24824-2009 《普通照明用LED模块测试方法》 | ||
4 | 相关色温 | 0418.03 | GBT 24824-2009 《普通照明用LED模块测试方法》 | ||
5 | 显色指数 | 0418.03 | GBT 24824-2009 《普通照明用LED模块测试方法》 | ||
6 | 外观 | 0418.03 | 1、GJ/B548B-2005《微电子器件试验方法和程序》2009以及2016; 2、JY/T 012-1996 《金相显微镜分析方法通则》 | ||
7 | 推算寿命值 | 0418.03 | GB/T 24824-2009《普通照明用LED模块测试方法》 | ||
4 | LED照明产品 | 1 | 光电性能 | 0418.03 0510.01 | 1、IES LM-79-08 LED固态照明产品光电测试认可方法; 2、ANSI C78.377-2008 Chromaticity of SSL Products; 3、GB/T 29293-2012 LED筒灯性能测量方法; 4、GB/T 29294-2012 LED筒灯性能要求; 5、 GB/T 29295-2012 反射型自镇流LED灯性能测试方法 |
5 | 半导体材料 | 1 | 晶格失配 | 0354.03 | 1、SJ 3244.2-1989 砷化镓、磷化铟衬底与异质结外延层之间晶格失配的测量方法 |
2 | 晶格常数 | 0354.03 | 1、JY/T 009-1996 转靶多晶体X射线衍射方法通则; 2、YB/T5337-2006 金属点阵常数的测定方法; 3、GB/T 30654-2014 III族氮化物外延片晶格常数测试方法 | ||
3 | 组分 | 0354.03 | 1、GB/T 24576-2009高分辨率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法 | ||
4 | 结晶质量 | 0354.03 | 1、GB/T 30653-2014 III族氮化物外延片结晶质量测试方法 | ||
5 | 微观形貌 | 0354.03 | 1、JY/T 010-1996 《分析型扫描电子显微镜方法通则》;2、GB/T 20307-2006《纳米级长度的扫描电镜测量方法通则》。 | ||
6 | 元素分析 | 0354.03 | 1、GB/T 17359-1998《电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则》; |