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适用标准
作者:      发布时间:2012-03-06

 

主要包括:

GJB 548B 微电子器件试验方法和程序

GJB 360B 电子及电气元件试验方法

GJB 128A 半导体分立器件试验方法

GJB 150A 军用装备实验室环境试验方法

GJB 4027A 军用电子元器件破坏性物理分析方法

GB/T 2423 电工电子产品环境试验

GB/T 4937 半导体器件 机械和气候试验方法

QJ 1906A 半导体器件破坏性物理分析方法和程序

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