Royce 650 键合拉力与芯片剪切力测试仪
作者： 发布时间：2013-03-07
测量电子元器件内部的焊接键合力和芯片粘附强度。
拉力（可做破坏性或非破坏性试验）：
0～100g，分辨率0.1g
剪切力：
0
～
20kg
，分辨率
0.02kg
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