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碲镉汞红外探测器组件长期可靠性研究
[2022-09-09]

碲镉汞红外探测器组件长期可靠性研究

The study of long-term reliability of HgCdTe infrared detector assembly

【作者】 曹岚 中国科学院上海技术物理研究所

【导师】 龚海梅, 张海燕 中国科学院上海技术物理研究所,中国科学院上海技术物理研究所

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