首页
所图书委员会
电子资源
数据库
电子期刊
常用期刊
本地全文
电子图书
半导体学报
网络服务
档案服务
机构知识库
首 页
>>
单篇全文
Force-Calibrated AFM for Mechanical Test of Freestanding Thin Films
[2011-02-28]
Force-Calibrated AFM for Mechanical Test of Freestanding Thin Films
Citation Hak Joo Lee et al.,
2005, Key Engineering Materials, 297-300, 275
附件下载