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4H-SiC Avalanche Photodiodes for 280 nm UV Detection
[2010-09-30]

4H-SiC Avalanche Photodiodes for 280 nm UV Detection
作者: Cha HY (Cha, Ho-Young)1, Sung HK (Sung, Hyuk-Kee)1, Kim H (Kim, Hyungtak)1, Cho CH (Cho, Chun-Hyung)2, Sandvik PM (Sandvik, Peter M.)3
来源出版物: IEICE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS    卷: E93C    期: 5    页: 648-650    出版年: MAY 2010 


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