首页
所图书委员会
电子资源
数据库
电子期刊
常用期刊
本地全文
电子图书
半导体学报
网络服务
档案服务
机构知识库
首 页
>>
单篇全文
A Structural Analysis of the Pd/GaN Ohmic Contact Annealing Behavior
[2010-07-06]
A Structural Analysis of the Pd/GaN Ohmic Contact Annealing Behavior L11.51
Authors: C.C. Kim, P. Ruterana, and J.H. Je
MRS vol.743
附件下载