首 页 >> 单篇全文
Fabrication and characterization of heterostructures with subnanometer thickness
[2018-01-16]

Koma, A., Sunouchi, K. & Miyajima, T. 

Fabrication and characterization of heterostructures with subnanometer thickness. 

Microelectron. Eng. 2, 129–136 (1984).

 


16111534159.pdf