薄膜结构X射线表征/应用物理学丛书 [2010-05-27] |
薄膜结构X射线表征/应用物理学丛书索书号:O484.2/M292 全书分三篇(共16章):第一篇基本实验装置(第1~3章),主要介绍X射线源、X射线准直和单色化、各种探测器及薄膜X射线衍射仪和表面/界面散射装置。第二篇基本理论(第4~10章),介绍薄膜X射线衍射和散射实验数据分析所用的相关理论,包括用于近完美多层膜和金属多层膜的X射线衍射运动学理论;用于超晶格和多量子阱的X射线衍射动力学理论;用于原子密度和晶格参数很接近的金属多层膜的X射线异常衍射精细结构理论;用于薄膜和多层膜表面与界面分析的X射线反射、漫散射理论以及掠入射衍射理论。第三篇薄膜微结构表征(第11~16章),介绍应用X射线衍射和散射技术表征薄膜微结构的实例。 目录 |
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