|
半导体光谱测试方法与技术 [2016-04-21] |
索书号 O433/Z231
目录
第1章 光谱字和光谱仪器的发展概况 第2章 半导体中的光学过程 第3章 半导体研究中的光谱测试需求 第4章 分光光谱仪的组成部件及测量系统 第5章 傅里叶变换光谱仪及其组成部件和测量系统 第6章 透射、吸收与反射光谱测量方法及实例 第7章 光电光谱测量方法及实例 第8章 发射光谱测量计、实例及综合测量系统 第9章 拉曼光谱测量方法及实例 第10章 微区及扫描成像光谱测量方法及实例 第11章 时间发辨光谱测量方法及实例 第12章 调制光谱测量方法及实例
|