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半导体光谱测试方法与技术
[2016-04-21]


索书号 O433/Z231


目录


第1章 光谱字和光谱仪器的发展概况

第2章 半导体中的光学过程

第3章 半导体研究中的光谱测试需求

第4章 分光光谱仪的组成部件及测量系统

第5章 傅里叶变换光谱仪及其组成部件和测量系统

第6章 透射、吸收与反射光谱测量方法及实例

第7章 光电光谱测量方法及实例

第8章 发射光谱测量计、实例及综合测量系统

第9章 拉曼光谱测量方法及实例

第10章 微区及扫描成像光谱测量方法及实例

第11章 时间发辨光谱测量方法及实例

第12章 调制光谱测量方法及实例